003 透射电子显微镜（TEM）
型号规格：JEM-F200_TFEG
购买日期：2019-01-01
设备分类：分析仪器
设备小类：显微镜及图像分析仪器
制造厂商：JEOL
设备产地：日本
仪器状态：内外部共享
设备原值：1025万
实验地址：东莞市松山湖国际创新创业社区C1栋松山湖材料实验室
服务价格(元/每小时)：1000
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检测技术服务
无
仪器可预约以下服务
提供委托测试、项目合作、技术委托开发、定制服务等，欢迎来电咨询。
功能描述
配备有电子能量损失谱仪（EELS）、EDS能谱仪及扫描透射探测系统，低倍下可以用来观察样品的晶粒形貌和物相分布，高倍下可用于确定材料的晶体结构，观测微量相的分布、晶体缺陷及界面形貌等。STEM模式下具有0.16 nm的高分辨率，1.5亿倍的超高放大倍率，可用来呈现材料的明暗场像及高分辨STEM像，对原子结构进行分析。
技术指标
1) 空间分辨率小于0.2 nm；
2) 放大倍数范围×50~×200万。
主要附件：
1）双X射线能谱仪（EDS）：能量分辨率133eV，有效检测面积可达200 mm2；
2）电子能量损失谱仪EELS：系统能量分辨率0.3 eV；
上机要求
培训合格后可上机
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